Modellierung des elektrischen Feldes für Anordnungen mit Singularitäten

[摘要] Mit Hilfe von weitverbreiteten numerischen Methoden wie BEM/FEM lassen sich Singularitäten im Feldverlauf nurbedingt berücksichtigen. Es sollen daher zwei alternative numerische Feldberechnungsmethoden vorgestelltwerden, die sich insbesondere für Spitzengeometrien eigenen, wie sie bei Rasterkraftmikroskopen eingesetztwerden. Dabei soll ein weiteres Augenmerk auf die Eignung der Kopplung der vorgeschlagenen Methoden an andereFeldberechnungsmethoden gerichtet werden.

Modern numerical methods for field calculations are having problems dealing with singularities correctly.This paper provides two alternative methods that are able to handle electric fields including singularitiesin tip-like configurations. These configurations occur in atomic force microscopes. Another focus will be thesuitability of coupling the presented methods with usual numerical methods.

[学科分类] 电子、光学、磁材料