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Capacitance-transient spectroscopy on irradiation-induced defects in Ge
[摘要]
[发布日期]  [发布机构] 
[效力级别]  [学科分类] 光谱学
[关键词] Ge-defect;deep level transient spectroscopy (DLTS);Laplace DLTS [时效性] 
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