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Capability of X-ray diffraction for the study of microstructure of metastable thin films
[摘要]
[发布日期]  [发布机构] 
[效力级别]  [学科分类] 数学(综合)
[关键词] METASTABLE THIN FILMS;MICROSTRUCTURE;X-RAY DIFFRACTION [时效性] 
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